Ультразвуковой дефектоскоп усд-46фр

Легкий и портативный новейший ультразвуковой дефектоскоп на фазированных решетках УСД-46ФР, совмещающий использование классических преобразователей ФР с математической обработкой сигналов по методу цифровой фокусировки сигнала. Сбор А-сканов всех комбинаций приемных и передающих элементов (полный опрос матрицы - FMC/Full Matrix Capture) и обработка сигналов с использованием технологий полной фокусировки (TFM/Total Focusing Method) позволили отказаться от необходимости ручной фокусировки лучей оператором на различные глубины, т.к. изображение автоматически сфокусировано в каждую точку S-скана.

В результате применений последних достижений электроники, дефектоскоп с широкими возможностями и мощной программной базой имеет массу всего 0,95 кг и позволяет получить высочайшее разрешение S-скана с использованием стандартных 16-ти элементных фазированных решеток.

Уникальная технология расчета всех лучей по геометрии призмы позволяет оператору быстро загрузить необходимое сочетание ФР преобразователя и модели призмы, получив таким образом уже предварительно просчитанную по всем лучам картину сканирования, с точными координатами отражателей по всему S-скану.

Помимо версии с ФР прибор имеет встроенное ПО обычного классического дефектоскопа. Переключение между версиями осуществляется мгновенно с сохранением всех настроек прибора, что позволяет, при необходимости, комфортно подтверждать результаты ФР с использованием одноканальных датчиков без использования второго прибора или перезагрузок прибора.

Уникальный морозостойкий современный экран с цветной TFT матрицей 640х480, великолепным быстродействием и широким углом обзора - это наилучший выбор для проведения работ в полевых условиях на ярком солнце, а также при отрицательных температурах.

Наличие конструктора сварного шва и режима учета реальной геометрии сварного соединения изделия позволяет сделать контроль удобным и наглядным. Возможность выравнивания чувствительности по всем углам, а также установки опорного уровня сигнала с привязкой к площади эталонного отражателя, позволяют сразу оценивать эквивалентную площадь дефекта.